Um Panorama da Nanometrologia no Brasil e no Mundo

Fabricio Torres

Resumo

A Nanometrologia é uma parte da metrologia que trata das medidas de diversas grandezas ao nível da escala nanométrica. Com o avanço exponencial da nanotecnologia nas últimas décadas, foi exigido um empenho enorme dos Laboratórios Nacionais de Metrologia para acompanhar esse avanço, oferecendo meios de garantir a rastreabilidade metrológica demandada por esta área. O presente artigo tem a intenção de apresentar um retrato da situação da nanometrologia no Brasil e no mundo, por meio de levantamento de dados disponibilizados pelos Laboratórios Nacionais de Metrologia, Bureau Internacional de Pesos e Medidas e pelo Sistema Nacional de Laboratórios em Nanotecnologias (SisNANO). 

Texto completo:

PDF

Número de visualizações: 127

Referências

ALDER, K. A medida de todas as coisas. Rio de Janeiro: Objetiva, 2003.

ANDRADE, L. R. B. Sistemática de ações de segurança e saúde no trabalho para laboratórios de pesquisa com atividades de nanotecnologia. 2013. 257f. Tese (Doutorado) - Engenharia de Produção da Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Rio Grande do Sul, 2013.

BIPM. Consultative Committee for Length - CCL - Report of the 15th meeting. Sèvres: 2012.

BIPM. Consultative Committee for Length -CCL - Report of the 16th meeting. Sèvres: 2015.

BIPM. Consultative Committee for Length - CCL - Report of the 17th meeting. Sèvres: 2018.

BIPM. Mise en pratique for the definition of the metre in the SI. In: SI Brochure – 9th ed. – Appendix 2. [S.I.]: 2019.

CCL. Working group on dimensional nanometrology. In: BIPM. Disponível em: https://www.bipm. org/en/committees/cc/wg/ccl-wg-n.html. Acesso em: 12 jul. 2020.

DAMASCENO, J. C., RIBEIRO, A. R., BALOTTIN, L.B., GRANJEIRO, J. M. Nanometrologia – desafios para a regulação sanitária. Disponível em: https://visaemdebate.incqs.fiocruz.br/index.php/visaemdebate/article/view/94. Acesso em: 06 ago. 2020.

FANTOM, J. P. A brief history of metrology: past, present, and future. Paris: International Journal of Metrology and Quality Engineering, 2019.

HISTORY of measurement. In: Réseau National de la Métrologie Française. Disponível em: https:// metrologie-francaise.lne.fr/en/metrology/history-units. Acesso em: 12 jul. 2020.

INMETRO. Laboratório estratégico de nanometrologia. Disponível em: http://www.inmetro.gov.br/ sisnano/equipamentos.asp. Acesso em: 12 jul. 2020.

INTERNATIONAL ORGANIZATION FORSTANDARDIZATION-ISO-TS80004-2 Nanotechnologies — Vocabulary : 2015.

KCDB. In: BIPM. Disponível em: https://www.bipm.org/kcdb/. Acesso em: 12 jul. 2020.

KEYSIGHT. 53220A/53230A 350 MHz Universal Frequency Counter/Timer. In: User’s Guide. 3th ed. Malásia: 2020.

LABORATÓRIO DE PROCESSOS QUÍMICOS E TECNOLOGIA DE PARTÍCULAS – LPP. In: IPT. Disponível em: https://www.ipt.br/centros_tecnologicos/BIONANO/laboratorios_e_sessoes/45-laboratorio_de_ processos_quimicos_e_tecnologia_de_particulas___lpp.htm. Acesso em: 29 nov. 2020.

INMETRO. Laboratório estratégico de nanometrologia. Disponível em: http://www.inmetro.gov.br/ sisnano/equipamentos.asp. Acesso em: 12 jul. 2020.

LIN, H. L. et al. Nanoparticle Characterization - Supplementary Comparison on Nanoparticle Size. Metrologia, v. 56, 1A, 2019.

POSTEK, M. The challenge of nanometrology. Gaithersburg: Nanostructure Science, Metrology, and Technology, 2002.

RELATÓRIOS de atividades. In: INMETRO, 2016. Disponível em:

http://www.inmetro.gov.br/sisnano/relatorios.asp. Acesso: 10 ago. 2020.

SISTEMA NACIONAL DE LABORATÓRIOS EM NANOTECNOLOGIAS. In: MCTI. Disponível em:http://www. mctic.gov.br/mctic/opencms/tecnologia/incentivo_desenvolvimento/sisnano/sisnano.html. Acesso em: 07 ago. 2020.

Apontamentos

  • Não há apontamentos.